x射線熒光測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

x射線熒光測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置

Si-Pin探測(cè)器。

信號(hào)檢測(cè)電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護(hù)傳感器

開放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

良好的射線屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

部分產(chǎn)品介紹

天瑞儀器產(chǎn)品包括:x射線能譜分析儀，金屬鍍層測(cè)厚儀，手持式直讀光譜儀，X熒光礦石分析儀，便攜式水質(zhì)重金屬分析儀 ，激光在線氣體分析儀，手持式ROHS分析儀，xrf合金材質(zhì)分析儀 ，X射線合金分析儀， ROHS測(cè)試儀，ROHS六大有害物質(zhì)檢測(cè)儀，ROHS分析儀，便攜式X射線熒光光譜儀，手持式合金分析儀，ROHS環(huán)保分析儀，便攜式土壤分析儀 ， ROHS檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，食品、水質(zhì)、土壤重金屬分析儀，ROHS儀器，電鍍膜厚檢測(cè)儀 ，手持式不銹鋼檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜儀 ，ROHS鹵素分析儀 ，便攜式合金分析儀 ，便攜式水質(zhì)重金屬檢測(cè)儀，x光鍍層測(cè)厚儀，臺(tái)式X熒光光譜儀，icp光譜儀 ，液相色譜質(zhì)譜儀 ，x射線膜厚測(cè)試儀，便攜式直讀光譜儀，手持式合金測(cè)試儀，便攜式X熒光能譜儀 ，xray測(cè)厚儀，手持式金屬元素分析儀，XRF鍍層膜厚儀，XRF測(cè)試設(shè)備，鍍鋅層測(cè)厚儀，xray膜厚儀，手持式合金分析儀，ROHS環(huán)保設(shè)備，XRF測(cè)試儀，合金材質(zhì)光譜檢測(cè)儀 ，便攜式不銹鋼材質(zhì)檢測(cè)儀 ，手持式土壤重金屬分析儀 ，X熒光能譜儀，便攜式光譜儀，金屬材料光譜分析儀，便攜式合金檢測(cè)儀，便攜式重金屬檢測(cè)儀，鍍金鍍銀測(cè)厚儀，煙草重金屬檢測(cè)儀 ，不銹鋼合金分析儀，ROHS六項(xiàng)檢測(cè)儀，鍍金鍍銀測(cè)厚儀，手持式光譜儀，手持式金屬分析儀，X射線熒光測(cè)厚儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，X光電鍍層測(cè)厚儀，便攜式x熒光分析儀 ，X射線鍍層膜厚儀，x熒光分析儀，x射線熒光儀，廢料回收手持式金屬分析儀，X射線膜厚儀，手持式光譜分析儀，手持式X熒光分析儀 ，  手持式材料分析儀，火花直讀光譜儀 ，手提式光譜儀，膜厚測(cè)試儀 ，波譜分析儀 ，X射線測(cè)厚儀 ， 手持式X熒光光譜儀 ，X熒光光譜分析儀，手持式不銹鋼分析儀，八大重金屬檢測(cè)儀  ，X射線熒光金屬鍍層分析儀。